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泰勒霍普森S116粗糙度儀量程信息

更新時間:2025-11-19   點擊次數:115次
S116 測量量程達 200μm,最小分辨率 5nm,Ra 參數測量誤差僅 ±(2%+0.004μm),單次測量誤差≤±3%,滿足工業(yè)級精密檢測需求。儀器配備觸摸屏操作界面,支持一鍵快捷設置,四向可旋轉屏幕適配各類測量姿勢,即便在狹小空間也能輕松讀數。獨特的升降調整機構與直角測量附件,可實現(xiàn)孔深 70mm 內表面測量,測針翻轉設計更能突破架空、管道內等特殊位置的測量限制,大幅拓展應用場景。
人性化設計貫穿產品細節(jié):防滑 V 型腳架確保曲面測量時與工件軸線精準對齊,人體工學機身提升手持舒適度,高防護涂膠塑性外殼可抵御車間油污、粉塵侵蝕。儀器支持多項國際標準參數測量,實時顯示的輪廓圖便于快速分析表面質量,搭配專用標準件可實現(xiàn)定期校準,保障長期測量精度。


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