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菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL210、信息

更新時間:2025-01-20   點擊次數:465次

X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL-210典型的應用領域有:

? 測量大規模生產的電鍍部件

? 測量薄鍍層,例如裝飾鉻

? 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

? 全自動測量,如測量印刷線路板

? 分析電鍍溶液

菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL-210設計理念

菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據樣品平臺的運行模式以及固定或者可調節的Z 軸系統來設定不同型號的儀器以滿足實際應用的需求。

菲希爾X射線測厚儀




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